Gebruiksvriendelijke röntgentechnologie
Het nieuwe level van eenvoud
Inspecteer het onzichtbare in één keer
ZEISS METROTOM 1
Met de gebruiksvriendelijke CT-technologie van ZEISS METROTOM 1 kan iedereen complexe meet- en inspectietaken efficiënt uitvoeren met slechts één scan. Meet en inspecteer verborgen defecten en interne structuren die niet kunnen worden gedetecteerd met tactiele of optische meetsystemen. Net zo slim: de afmetingen van ZEISS METROTOM 1. Met zijn kleine voetafdruk past de CT-scanner eenvoudig in uw meetruimte en maakt deze gelijktijdige interne metingen en inspecties mogelijk.
Eén CT-systeem, diverse voordelen
ZEISS METROTOM 1 is het ideale apparaat om uw kwaliteitsinspectieportfolio te upgraden met behulp van industriële computertomografie. Het CT-systeem biedt vele voordelen:
Gebruiksgemak
ZEISS METROTOM 1 is gebouwd met de gebruiker in gedachten. Installatie is een eenvoudig proces en er is slechts weinig training nodig om het CT-systeem te kunnen gebruiken. Eén klik is genoeg om een scanproces te starten!
Nauwkeurige metingen
Klein maar fijn: met ZEISS METROTOM 1 kunt u complete onderdelen meten en evalueren. Hiermee kunt u nauwkeurige nominale/werkelijke vergelijkingen, dimensionale controles en wanddikteanalyses uitvoeren wetende dat u op uw metingen kunt vertrouwen.
Kleine voetafdruk
ZEISS METROTOM 1 is verrassend compact. De afmetingen zijn 1750 mm (b) × 1820 mm (h) × 870 mm (d). Dat betekent dat het CT-systeem in elke meetruimte past, zodat u interne metingen en kwaliteitsborging kunt uitvoeren zonder externe meetdiensten.
Snel investeringsrendement
Naast de lage aanschafkosten worden ook de eigendomskosten tot een minimum beperkt dankzij het onderhoudsvriendelijke systeem: de buis van ZEISS METROTOM 1 vereist geen onderhoud wanneer deze in gebruik is.
ZEISS METROTOM 1 - betrouwbaar en compact
Progressieve CT-technologie voor elk metrologielab
ZEISS is een expert op het gebied van CT-technologie en levert al meer dan tien jaar betrouwbare CT-systemen als onderdeel van de METROTOM-serie. Het computertomografiesysteem ZEISS METROTOM 1 maakt nu betrouwbare röntgentechnologie en niet-destructieve kwaliteitsborging voor iedereen beschikbaar.
Meet volledige componenten. Garandeer onberispelijke onderdelen.
Met ZEISS METROTOM 1 kunnen verborgen defecten van werkstukken gemakkelijk worden gedetecteerd in uw meetlab. Of het nu gaat om middelgrote of kleine onderdelen, plastic of licht metaal, met ZEISS METROTOM 1 kunt u een verscheidenheid aan onderdelen inspecteren, zoals connectors, kunststof kappen, aluminium onderdelen en meer.
GOM Volume Inspect
Comprehensive CT data analysis in 3D
ZEISS METROTOM 1 comes with the operation and inspection software GOM Volume Inspect. The software is suitable for beginners and combines all stages of the CT process from scan set-up and reconstruction to data evaluation and reporting. Geometries, shrinkage holes or internal structures and assembly situations can be evaluated precisely. Even small defects become visible thanks to individual sectional images and can be automatically evaluated using a wide range of criteria. With just one software, you can load volume data from several components into a project, perform a trend analysis, compare the captured 3D data with the CAD model and more.
ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)
Artificial intelligence in computed tomography
The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.
Ervaar hoe het systeem werkt
Technische gegevens
Klein van stuk, maar groot in prestaties met ZEISS
Toepassingsgebieden:
Niet-destructieve inspectie, gelijktijdig scannen van verschillende werkstukken
Inspectiefuncties:
Meting van interne en externe structuren, inspecties van interne defecten zoals krimpgaten.
X-ray source |
160 kV |
X-ray detector (pixels): |
2.5 k (2,500 x 2,500) |
Measuring volume |
165 x 140 mm |
Metrology specification (MPE SD) |
5 µm +L/100 |
Dimensions |
1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D) |
Weight |
2100 kg |
Software |
GOM Volume Inspect (included) |
Resolution |
32,6 μm |
High Resolution Mode
With the High Resolution (HR) mode you can decrease the voxel size of your ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.
- Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
- Improved image quality
- Easy switch between Standard and High Resolution mode
Features |
ZEISS METROTOM 1 |
ZEISS METROTOM 1 |
Voxel size |
65.3 μm |
32.6 μm |
Measuring volume |
165 x 140 mm |
80 x 80 mm |
Pixel size |
78 μm x 78 μm |
39 μm x 39 μm |
View more details and receive a sharper image with the High Resolution mode.