Kwaliteit verzekeren voor productiviteit op de lange termijn

Oppervlak-afwerking en ruwheidsoplossingen van ZEISS

ZEISS is leverancier van oplossingen voor oppervlak-afwerking en ruwheidsmetingen die kwaliteitsborging en productiebewaking ondersteunen. Het portfolio levert gedetailleerde en informatieve gegevens voor besluitvorming en zorgt voor dynamische en betrouwbare resultaten. Deze tactiele en optische oplossingen kunnen worden gebruikt om complexe geometrieën, topografieën en ruwheidsniveaus van afgewerkte en functionele oppervlakken te inspecteren, karakteriseren en meten.

Ontdek hoe ZEISS helpt bij het aanpakken van belangrijke uitdagingen tijdens de inspectie, karakterisering en meting van jouw onderdelen.

Tactiele oplossingen van ZEISS

Profiel-/lineaire ruwheidsmetingen

ZEISS ROTOS is een veelzijdige tactiele oppervlak-textuur sensor voor gebruik op ZEISS CMM's. Het biedt geavanceerde meetmogelijkheden op diverse technische oppervlakken en is maximaal flexibel. ROTOS biedt een uitstekende toegankelijkheid en gebruikt zijn drie +/- 180° traploze rotatie-assen om de profileer-machine in elke mogelijke richting te oriënteren. Het modulaire ontwerp, met momenteel in totaal acht eenvoudig te verwisselen stylus-armen, ondersteunt een breed scala aan toegankelijkheidsopties.

Precieze ruwheidsmeting met CMM's op componenten van aandrijflijnen

Jouw voordeel met ZEISS
Met 3 rotatieassen kan ZEISS ROTOS de volledige oppervlakte-ruwheid in elke richting reproduceerbaar meten. Voor optimale toegankelijkheid en verhoogde flexibiliteit! Daarnaast ondersteunt het geautomatiseerde oppervlak-inspectie van alle geometrische kenmerken. Hierdoor blijft de productkwaliteit gewaarborgd en een hoge verwerkingssnelheid bevorderd.

Alle inspectie-kenmerken en ruwheidstoleranties gecontroleerd in een enkele geautomatiseerde run die volledig voldoet aan de normen
Niet opnieuw klemmen, minimale insteltijden, flexibel modulair ontwerp
Ruwheidsmeting geïntegreerd in CMM-meetsequentie

Precieze ruwheidsmeting met CMM's op bladschijven en gekromde werkstukoppervlakken

Jouw voordeel met ZEISS
ZEISS ROTOS kan de oppervlakruwheid op de airfoil reproduceerbaar meten in een volledig geautomatiseerd proces. Daarom kan het systeem worden gecombineerd met de RS-10 (RS-4) ruwheidsstylus, die ideaal is voor bladschijf-metingen. Dit vanwege de toegankelijkheid op concave-oppervlakken en gezien de smalle openingen tussen de airfoils.

Kosten verlagen met intensieve ruwheidsmeting van elke afzonderlijke bladschijf
Groot aantal metingen en toleranties eenvoudig verwerkt in ZEISS CALYPSO en ZEISS PiWeb

Optische oplossingen van ZEISS

Flexibele oplossingen voor het inspecteren, karakteriseren en meten van complexe onderdelen

Optische oppervlakte-meting scant de fijne structuur van oppervlakken en gevoelige materialen zonder contact. Er kunnen karakteristieke 2D-waarden en 3D-oppervlakparameters worden vastgesteld die de eigenschappen van de microstructuur weergeven.

ZEISS LSM 900 Mat: 3D-topografie, oppervlak-/gebiedsruwheid, laagdikte-metingen

ZEISS LSM 900 Mat biedt driedimensionale topografie, metingen en informatie met betrekking tot de oppervlakte-ruwheid van geproduceerde onderdelen. Alemaal met de hoogste precisie en herhaalbaarheid! De niet-destructieve optische techniek is perfect voor gevoelige oppervlakken en biedt een volledige kwalitatieve en kwantitatieve karakterisering van het te beoordelen oppervlak.

Karakterisering van het oppervlak van tandheelkundige implantaten

Jouw voordeel met ZEISS
ZEISS LSM 900 Mat genereert geen sporen of schade tijdens de meting en is perfect voor de analyse van gevoelige oppervlakken. Gebaseerd op het laserscanning-principe (CLSM), combineert het alle essentiële lichtmicroscopie-contrastmethodes voor materialen met precieze topografie.

Uitgerust met een geweldig hoog numeriek diafragma dat vooral gunstig is voor lagere vergrotingen. Dit leidt tot een superieure beeldkwaliteit met minder ruis en minder artefacten. Hierdoor worden meer details over grotere delen van het oppervlak in een enkel beeld zichtbaar. Zonder dat er tijd geïnvesteerd hoeft te worden in het aan elkaar plakken van beelden.

Oppervlak-analyse van laser-gepolijst additief vervaardigd roestvrij staal 316L

Jouw voordeel met ZEISS
ZEISS LSM 900 Mat legt efficiënt 2.5D-topografie vast en kwantificeert ruwheidswaarden (volgens internationale normen) met meer detail dan digitale microscopen kunnen bieden. Tevens verwerkt het alle relevante parameters en maakt directe vergelijking van meerdere oppervlakafwerkingen mogelijk in de analyse-software ZEISS Confomap.

ZEISS LSM 900 Mat karakteriseert de oppervlak-kwaliteit van het staal op een efficiënte en betrouwbare manier. Hierdoor is het mogelijk om de bereikte gladheid van het oppervlak te kwantificeren, de proceskwaliteit van het laserpolijsten te evalueren en een geschikt procesvenster te bepalen voor oppervlakbehandeling van additief geproduceerd roestvrij staal 316L.

Analyse van PVDF-deeltjes op separator-folie en elektrode-ruwheid op een e-accu

Jouw voordeel met ZEISS
ZEISS LSM 900 voor materialen biedt een nauwkeurige evaluatie van de microstructuur van separator-folies in de accu. Dit op een contactloze manier die het oppervlak van de separator niet aantast en de resultaten niet beïnvloedt. De hoogte en verdeling van de bindmiddel-partikels kan over een groot gebied worden gemeten met een speciaal 10X-objectief. Dit biedt een uitstekend niveau van oppervlakte-detail dankzij de hoge numerieke lensopening.

Combineer de ZEISS Axio Imager 2 upright lichtmicroscoop met de LSM 900 Mat om te profiteren van het volledige scala aan essentiële contrastmethodes voor lichtmicroscopie van materialen en hogeprecisie-topografie. Allemaal op één instrument! Aangezien het niet nodig is om van microscoop te wisselen, bespaart dit tijd bij de configuratie

ZEISS helpt Oerlikon bij het industrialiseren van de productie van additieven

Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

Wil je meer informatie over oplossingen van ZEISS voor oppervlakte-analyse en ruwheidsmeting?

Vul het formulier in om onze brochure te downloaden.

Formulier is aan het laden...

Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.

Contact ons

Geïnteresseerd in onze producten of diensten? We geven je graag meer informatie of een live demo, op afstand of persoonlijk.

ZEISS Metrology shop

Eenvoudig meetkoppen, meetaccessoires en meer bestellen

ZEISS Metrology-portaal

Krijg toegang tot het volledige aanbod van systemen en software-services

ZEISS Academy Metrology

Vind specifieke succesverhalen en andere, relevante onderwerpen voor jouw branche

Wens je meer informatie?

Neem contact met ons op. Onze experts nemen contact met je op.

Formulier is aan het laden...

Volgende stap:

Je vraag
Persoonlijke gegevens
Bedrijfsgegevens

Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.

Meer software-oplossingen van ZEISS

ZEISS Confomap

Microscoopsoftware voor beeldvorming en oppervlakanalyse.

ZEISS oppervlakafwerkings- en ruwheidsoplossingen

Diepgaande interpretatie van het oppervlak.
Voor elke meettaak

Kwaliteit verzekeren voor productiviteit op de lange termijn

Oppervlak-afwerking en ruwheidsoplossingen van ZEISS