Veldemissie SEM

ZEISS Sigma

Toegang tot betrouwbare beeldvorming en analyse met hoge resolutie

ZEISS Sigma is gebaseerd op de bewezen ZEISS Gemini technologie. Het ontwerp van de Gemini objectie-flens combineert elektrostatische en magnetische velden om de optische prestaties te maximaliseren en tegelijkertijd de veld-invloeden op het monster te minimaliseren. Dit maakt uitstekende beeldvorming mogelijk, zelfs op uitdagende monsters zoals magnetische materialen.

Nauwkeurige reproduceerbare resultaten van elk monster
Snel en eenvoudig experimenten opzetten
Gebaseerd op bewezen Gemini technologie
Flexibele detectie voor heldere beelden
Sigma 560 heeft de beste EDS-geometrie in haar klasse

ZEISS Sigma voor de industrie

Ervaar een nieuw kwaliteitsniveau bij het testen van je monsters

Het Gemini detectieconcept in de lens zorgt voor efficiënte signaal-detectie door secundaire (SE) en/of terugverstrooide (BSE) elektronen te detecteren. Hierdoor wordt de tijd tot aan het beeld geminimaliseerd. De Gemini bundelversterker garandeert kleine tastersysteem-groottes en hoge signaal-ruisverhoudingen.

Je kunt al je monsters karakteriseren met de nieuwste detectie-technologie. Topografische, hoge resolutie informatie verzamel je met de nieuwe ETSE-detector en de InLens-detector in hoogvacuüm-modus. Verkrijg scherpe beelden in variabele drukmodus met de VPSE of C2D detector. Produceer hoge resolutie transmissie-beelden met de STEM-detector. En onderzoek de samenstelling met de HDBSD- of de YAG-detector.

Alle toepassingsgebieden in één oogopslag

Foutenanalyse van materialen en gefabriceerde componenten
Beeldvorming en analyse van staal en metalen
Inspectie van medische hulpmiddelen
Karakterisering van halfgeleiders en elektronische apparaten in procesbesturing en diagnostiek
Beeldvorming en analyse met hoge resolutie van nieuwe nano-materialen
Analyse van coatings en dunne films
Karakterisering van verschillende vormen van koolstof en andere 2D-materialen
Beeldvorming, analyse en differentiatie van polymeer-materialen
Batterijonderzoek uitvoeren om verouderingseffecten en kwaliteitsverbeteringen te begrijpen

Geautomatiseerde deeltjes-analyse en multimodale correlatieve beeldvorming

Correlatieve geautomatiseerde deeltjes-analyse

Van productie-reinheid en voorspelling van motorslijtage tot staalproductie, milieubeheer en oplossingen voor 3D printen. Met een elektronenmicroscoop van ZEISS automatiseer je workflows en verhoog je de reproduceerbaarheid.

Gecorreleerde analyse van licht- en elektronenmicroscopie in een naadloos geïntegreerde workflow

Automatisch geïntegreerde LM/EM-rapportage
Bronnen van vervuiling opsporen
Sneller weloverwogen beslissingen nemen
De productiekwaliteit voortdurend verbeteren
Snellere resultaten: geautomatiseerde analyse in plaats van continue afzonderlijke analyses. Plus snellere deeltjes-inspectie en -tests met geïntegreerde machine-learning algoritmen.
Multimodale correlatieve beeldvorming van microplastics

ZEISS ZEN Intellesis maakt deeltjes-analyse door machinaal leren mogelijk. De resultaten zijn toegankelijk via de ZEISS ZEN Connect-software. ZEISS ZEN Intellesis biedt vervolgens verder inzicht in de deeltjes-distributie op basis van machine learning beeldsegmentatie en object-classificatie.
Correlatie van deze twee microscopische methoden, SEM en Raman, worden gebruikt om maximale informatie te genereren tijdens de analyse. Vooral voor polymeer-deeltjes. ZEN Connect dient als overlay met Raman voor basis-analyse en ZEN Intellesis dient voor geautomatiseerde classificatie. De rapportagetool wordt gebruikt om automatisch rapporten te maken op basis van sjablonen en deze vervolgens op te slaan in pdf- of doc-formaat (4).

Correlatie van deze twee microscopische methoden, SEM en Raman, worden gebruikt om maximale informatie te genereren tijdens de analyse. Vooral voor polymeer-deeltjes. ZEN Connect dient als overlay met Raman voor basis-analyse en ZEN Intellesis dient voor geautomatiseerde classificatie. De rapportagetool wordt gebruikt om automatisch rapporten te maken op basis van sjablonen en deze vervolgens op te slaan in pdf- of doc-formaat (4).

Voor een SEM-beeld (1) wordt beeldanalyse gebruikt om alle deeltjes (2) te segmenteren en de gekozen kenmerken te meten. Metingen kunnen bijvoorbeeld worden weergegeven in de vorm van een grootte-verdeling. Intellesis Object Classification wordt gebruikt om gesegmenteerde deeltjes verder te classificeren en te sorteren in hun subtypes (3). Aan de hand van deze informatie kan de deeltjestelling per type worden uitgevoerd. Object-classificatie is uitgevoerd voor standaard nano- en microplastic deeltjes (polystyreen (PS, lichtblauw), polyethyleen (PE, groen), polyamide-nylon 6 (PA, donkerblauw) en polyvinylchloride (PVC, rood)) op een polycarbonaat-filter belicht met ZEISS Sigma. Deze correlatieve studie combineert de hoge resolutie van een elektronenmicroscoop met de analytische mogelijkheden van een Raman-microscoop.

ZEISS SmartPI

ZEISS SmartPI is ontworpen voor herhaalbare analyse van grote volumes routine-monsters in een productieomgeving. De mogelijkheid om vervuilde gegevens te identificeren, analyseren en rapporteren voegt een nieuwe dimensie toe aan procesbeheersing. Profiteer van aanzienlijke verbeteringen in volledig geautomatiseerde SEM-deeltjesanalyse en -classificatie. Laat ZEISS SmartPI je productiviteit verhogen, je kwaliteit verbeteren en je vervuilingskosten verlagen. Detecteert, meet, telt en classificeert automatisch interessante deeltjes op basis van morfologie en elementaire samenstelling.

Rapporten volgens industrienormen worden automatisch gegenereerd, zoals VDA 19.1 en ISO 16232

Volledig geïntegreerd en compatibel met Bruker & Oxford EDS-systemen

Meer informatie in onze video's over ZEISS Sigma

De evolutie van ZEISS Gemini optische apparaten

Inhoud van derden geblokkeerd

De videospeler is geblokkeerd vanwege uw trackingvoorkeuren. Om de instellingen te wijzigen en de video af te spelen, dient u op de onderstaande knop te klikken en in te stemmen met het gebruik van "functionele" trackingtechnologieën.

ZEISS Gemini technologie voor de industrie. ZEISS biedt de juiste oplossing voor elke toepassing. Bekijk de video en ontdek de ontwikkeling en voordelen van de Gemini technologie.

SEM-brochure downloaden

ZEISS SEM Brochure A4 EN PDF

22 MB

Download

Contact ons

Geïnteresseerd in onze producten of diensten? We geven je graag meer informatie of een live demo, op afstand of persoonlijk.

ZEISS Metrology shop

Eenvoudig meetkoppen, meetaccessoires en meer bestellen

ZEISS Metrology-portaal

Krijg toegang tot het volledige aanbod van systemen en software-services

ZEISS Academy Metrology

Vind specifieke succesverhalen en andere, relevante onderwerpen voor jouw branche

Wens je meer informatie?

Neem contact met ons op. Onze experts nemen contact met je op.

Formulier is aan het laden...

Volgende stap:

Je vraag
Persoonlijke gegevens
Bedrijfsgegevens

Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.