ZEISS O-INSPECT duo

ZEISS O-INSPECT duo

Microscoop en meetapparaat in één.

De ZEISS O-INSPECT duo biedt twee technologieën in één apparaat: grote werkobjecten zoals printplaten, brandstofcellen of batterijen kunnen in hun geheel worden gemeten en geïnspecteerd met een hoge resolutie. De combinatie van 3D-meettechnologie en microscopische inspectie verhoogt de efficiëntie en bespaart ruimte in kwaliteitslaboratoria. De ZEISS O-INSPECT duo is verkrijgbaar in de maten 8/6/3.

  • 2-in-1: microscoop en meetapparaat in één apparaat
  • Snelle en nauwkeurige 3D-metingen - optisch en tactiel
  • Hoge-resolutieoptiek met de bijbehorende ZEISS ZEN core-inspectiesoftware

Het eerste multitechnologiesysteem van ZEISS

Als 'VMA-microscoop' beschikt de ZEISS O-INSPECT duo over twee essentiële toepassingen op het gebied van kwaliteitsborging: Nauwkeurige meting en inspectie met hoge resolutie van grote of veel kleine componenten. Het apparaat is ook specifiek ontwikkeld voor toepassingen waarbij een combinatie van dimensionale meting en inspectie is vereist, zoals segmenteren, hechten en beeldverwerking met kleurenbeelden. In plaats van zowel een VMA als een microscoop aan te schaffen, is er slechts één apparaat nodig in kwaliteitslaboratoria, wat ruimte en systeemkosten bespaart. Lees meer over de verdere voordelen van dit multifunctionele apparaat voor de betreffende gebieden.

Nauwkeurige metingen - optisch en tactiel
METROLOGIE

Nauwkeurige metingen - optisch en tactiel

Hoge nauwkeurigheid voor vlakke en gevoelige werkobjecten

ZEISS O-INSPECT duo is een multisensorisch meetapparaat en onderscheidt zich door de hogeresolutieoptiek in combinatie met de ZEISS VAST XXT tactiele scansensor. De sensor kan snelle en nauwkeurige 3D-metingen uitvoeren door in één beweging een groot aantal meetpunten vast te leggen.

Zeer kleine of gevoelige onderdelen kunnen contactloos worden gemeten met een uitstekende nauwkeurigheid en een aanzienlijke kortere meettijd dankzij de ZEISS VAST-meetkoppen (ZVP). Dit is mogelijk dankzij het grote gezichtsveld met hoge resolutie en uitstekende beeldgetrouwheid, zelfs in de perifere gebieden.

Inspectie en meting van oppervlakken met één apparaat
METROLOGIE

Inspectie en meting van oppervlakken met één apparaat

Vandaag een VMA, morgen een microscoop

Naast het meten van de afmetingen moet bij veel werkobjecten ook het oppervlak worden geïnspecteerd. Waar voorheen twee aparte apparaten werden gebruikt voor meten en inspecteren, biedt de ZEISS O-INSPECT duo nu een 2-in-1-oplossing. Dankzij de intuïtieve bediening van het apparaat en de 5 MP Discovery.V12 scout 160 c-kleurencamerasensor met hoge resolutie en 12x zoomlens, kunnen inspectietaken nu ook met het meetapparaat worden uitgevoerd. Naast het normale gebruik met de ZEISS CALYPSO, kan het apparaat ook worden gebruikt voor microscopietaken met de ZEISS ZEN core-software.

Onze grootste microscoop
MICROSCOPIE

Onze grootste microscoop

Grote onderdelen in hun geheel inspecteren

Het opsplitsen van componenten behoort tot de verleden tijd: Grote werkobjecten, zoals printplaten, brandstofcellen of batterijen, kunnen nu in hun geheel optisch worden geïnspecteerd. Dit bespaart kostbare middelen en tijd en vermindert foutbronnen veroorzaakt door het heen en weer verplaatsen van gefragmenteerde werkobjecten tussen verschillende systemen.

Naast de inspectie van grote onderdelen is de ZEISS O-INSPECT duo ook geschikt voor de geautomatiseerde inspectie van meerdere kleine onderdelen. Dit betekent dat de meetmicroscoop maar één keer hoeft te worden geladen. De inspectie zelf wordt vervolgens in één stap uitgevoerd zonder de afzonderlijke monsters te wisselen.

Kleurencamera met 5 MP en hoge resolutie
MICROSCOPIE

Kleurencamera met 5 MP en hoge resolutie

Defecten nauwkeurig opsporen

Terwijl zwart-witbeelden grote contrastverschillen opleveren in de meettechnologie, bieden kleurenbeelden een voordeel bij microscopische analyse: Dankzij de resolutie van 5 megapixels in kleur worden zelfs kleine defecten duidelijk weergegeven en kunnen ze nauwkeurig worden geïnspecteerd en geëvalueerd. De ZEISS O-INSPECT duo kan worden gebruikt met de bekende ZEISS ZEN core-microscopiesoftware.

Klik op de cirkel in de afbeelding om het informatievak met meer details te openen.

Ontdek de details
Ontdek de functies van de ZEISS O-INSPECT duo
Groot gezichtsveld met hoge beelddefinitie

De ZEISS Discovery.V12 scout 160 c-camerasensor met 5 MP biedt een hoge resolutie en visualiseert de kleinste details en structuren dankzij de 12x zoom. Dankzij het grote gezichtsveld van 16,1 x 12 mm kan meer informatie per beeld worden weergegeven. De kleurencamera biedt nauwkeurige microscopische analyse en zorgt tegelijkertijd voor consistent nauwkeurige meetresultaten dankzij de hoge resolutie van 5 MP.

Verlichting

De ringverlichting bestaat uit een buiten- en binnenring met witte leds die afzonderlijk kunnen worden aangestuurd in 16 segmenten. Het apparaat heeft ook een coaxiale uplight en backlight, waardoor verschillende toepassingen en werkobjecten kunnen worden geanalyseerd.

Snelle en nauwkeurige tactiele 3D-metingen

De ZEISS VAST XXT kan uiterst nauwkeurig scannen door een groot aantal meetpunten vast te leggen in een enkele beweging, met een nauwkeurigheid van 1,5 µm + L/250 µm.

Groot platform

Op het platform van 800 x 600 x 300 mm kunnen grote werkobjecten met een gewicht tot 100 kg worden gemeten en geïnspecteerd, zonder dat u ze voor de meting hoeft te snijden, te vernietigen of te bewerken. Ook kunnen meerdere kleine onderdelen automatisch worden geïnspecteerd op het grote platform.

2 softwareproducten

De ZEISS CALYPSO beschikt over verbeterde visualisatieopties om u tijd te besparen. CAD-modellen kunnen gesuperponeerd worden weergegeven en mogelijke afwijkingen (ACTUEEL ten opzichte van DOEL) kunnen snel worden geïdentificeerd. Dankzij het brede scala aan opties biedt de ZEISS CALYPSO ook de juiste middelen voor speciale vereisten. ZEISS ZEN core is de andere oplossing voor microscopie: Naast klassieke beeldvorming bevat de softwaresuite ook hulpmiddelen voor beeldvorming, segmentatie, analyse en gegevensconnectiviteit voor multimodale microscopie in verbonden laboratoria en productieomgevingen.

Professionele en bruikbare rapporten

ZEISS PiWeb reporting biedt met één klik documentatie en visualisatie van uw meetgegevens, en geeft u nuttige inzichten in uw onderdelen en processen.

Optimale contrasten

Naast coaxiale uplight en backlight beschikt de ZEISS O-INSPECT duo ook over verschillende bedieningsopties voor de ringverlichting. De binnen- en buitenledringen kunnen afzonderlijk worden in- en uitgeschakeld of alleen in bepaalde segmenten worden geactiveerd.

Analyse van membranen, samenstellingen, afdichtingen, coatings en vast materiaal

Binnenste en buitenste leds

De ringverlichting bestaat uit witte binnen- en buitenleds. De combinatie van binnen- en buitenleds resulteert in maximale verlichting van uw werkobject.

Binnenleds

Binnenleds

De binnenste ringverlichting verhoogt contrasten in de oppervlaktextuur, wat leidt tot betere scherpstelling voor nog nauwkeurigere meetresultaten.

Buitenleds

Celkader

De leds van de buitenste ringverlichting filteren storend omgevingslicht. Dit biedt voordelen zoals het verlichten van gekleurde materialen met een hoog contrast.

Segmentverlichting

Segmentverlichting

De ringverlichting bestaat uit 16 segmenten die afzonderlijk kunnen worden aangestuurd. Dit zorgt voor een optimale verlichting die aansluit bij de kenmerken van uw werkobject.

Ergonomisch en handig te bedienen

De ZEISS O-INSPECT duo moet niet alleen voldoen aan de hoogste technische normen op het gebied van kwaliteit, betrouwbaarheid en snelheid, maar moet ook veilig, ergonomisch en gebruiksvriendelijk zijn. De technische hoogwaardigheid van onze componenten komt pas volledig tot zijn recht als het product eenvoudig kan worden bediend zoals bedoeld. Daarom hebben we de ZEISS O-INSPECT duo uitgerust met handige functies.

Optionele pallet

Optionele pallet

De optionele pallet is geschikt voor vlakke werkobjecten en kan eenvoudig worden vervoerd en veilig op het apparaat worden bevestigd.

Verwijderbaar voorpaneel

Verwijderbaar voorpaneel

Dankzij het afneembare voorpaneel kan de ZEISS O-INSPECT duo handig en eenvoudig naar de gewenste locatie worden gebracht en optimaal worden gepositioneerd met een heftruck.

Houder voor bedieningspaneel

Houder voor bedieningspaneel

De houder voor het bedieningspaneel kan flexibel aan alle zijden van het apparaat worden geplaatst, voor optimale toegankelijkheid en bedienbaarheid.

CALYPSO of ZEN core? Beide.

De ZEISS O-INSPECT duo heeft twee speciale softwareprogramma's met specifieke functies voor microscopie en metrologietaken. Operators uit de betreffende vakgebieden hoeven dus geen nieuwe software te leren.

ZEISS CALYPSO voor geoptimaliseerde kwaliteitscontrole

ZEISS CALYPSO voor geoptimaliseerde kwaliteitscontrole

In combinatie met ZEISS CALYPSO benutten ZEISS-coördinatenmeetapparaten hun volledige potentieel. Optimaliseer uw kwaliteitscontrole: De software biedt ondersteuning voor, tijdens en na de meting. Meet en analyseer uw werkobjecten met een reeks verschillende functies en haal het maximale uit uw coördinatenmeetapparaat.

    • Automatisch aanmaken van inspectieplannen vanuit PMI: De ZEISS CALYPSO maakt automatisch inspectieplannen op basis van PMI-gegevens, inclusief alle relevante kenmerken en eigenschappen.
    • Versiebeheer van verschillende inspectieplannen: U kunt al uw stappen traceren omdat alle versies van inspectieplannen worden beheerd. U hoeft niet met verschillende kopieën te werken omdat alles direct in het inspectieplan wordt beheerd.
    • Meetstrategieën implementeren en optimaliseren: Met de geïntegreerde tool voor het genereren van meetstrategieën kunt u bedrijfsspecifieke meetstrategieën toepassen of uw inspectieplannen optimaliseren op basis van aanbevelingen van ZEISS.
    • Krachtige visualisatie van meetresultaten: Met ZEISS PiWeb reporting beschikt de ZEISS CALYPSO over een geïntegreerde professionele tool voor protocolontwerp om bruikbare visualisaties van uw meetresultaten te maken.
    Multi-modale, geïntegreerde microscopie met ZEISS ZEN core

    Multi-modale, geïntegreerde microscopie met ZEISS ZEN core

    ZEN core kan meer dan alleen microscopiebeeldvorming: De software vormt het meest uitgebreide pakket van tools voor beeldvorming, segmentatie, analyse en gegevensconnectiviteit voor multimodale microscopie in verbonden materiaallaboratoria. Het biedt ook uitgebreide functies zoals tegelen, hechten (interferometrie) en automatische foutdetectie.

      • Eén interface voor alle ZEISS-microscopen: ZEN core biedt u een uniforme gebruikersinterface voor microscopen en camera's van ZEISS. Hiermee kunt u multimodale workflows uitvoeren en alle beeldvormings- en analytische gegevens koppelen aan systemen, laboratoria en locaties.
      • Geavanceerde beeldvorming en geautomatiseerde analyse: ZEN core is uw commandocentrum voor het instellen van geautomatiseerde beeldvormings-, segmentatie- en analysefuncties van samengestelde lichtmicroscopen.
      • Infrastructuuroplossingen voor het aangesloten laboratorium: ZEN core biedt de infrastructuur voor aangesloten laboratoriumomgevingen en brengt al uw beeldvormings- en microscopieoplossingen van ZEISS samen in één gebruikersinterface.

      Technische gegevens

      Maat

      8/6/3

      Camera

      ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, kleurencamera met 5 MP, 2646 x 2056 pixels

      Verlichting

      Ledringverlichting met 16 segmenten met witte leds, coaxiale uplight en backlight

      Werkafstand in mm

      55

      Mechanische zoom

      12 x

      Max. gezichtsveld in mm

      16,1 x 12

      Compatibele tactiele tasterkop

      ZEISS VAST XXT - TL1/TL3

      Capaciteit

      100 kg

      Tactiele en optische nauwkeurigheid

      1D: 1,5 μm + L/250

      2D: 1,8 μm + L/250 μm

      3D: 2,2 μm + L/250 μm

      Software

      ZEISS CALYPSO (voor metrologie)

      ZEISS ZEN core (voor microscopie)

      Toepassingsvoorbeelden

      Bekijk de toepassingsvideo's en zie hoe verschillende werkobjecten, zoals medische kunststoffen, bipolaire platen of printplaten worden gemeten en geïnspecteerd met de ZEISS O-INSPECT duo.

      • Meting en inspectie van elektronische componenten met ZEISS O-INSPECT duo
      • Meting en inspectie van bipolaire platen met ZEISS O-INSPECT duo
      • Meting en inspectie van medische kunststoffen met ZEISS O-INSPECT duo
      Michael Zeller

      Op het gebied van microscopie hebben we nu veel meer ruimte om componenten te bekijken en hoeven we geen monsters meer te snijden

      Michael Zeller Senior manager meet- en monitoringtechnologie voor testapparatuur, Zollner Elektronik AG

      Bekijk onze demovideo met functies, software en aanbevolen methoden

      Zie de O-INSPECT duo in actie en bekijk ons productwebinar voor interessante inzichten van onze productmanagers, softwaredemonstraties en een eerste indruk van een van onze pilotklanten. In deze sessie leert u hoe het combineren van microscopie en metrologie in één enkel apparaat uw kwaliteitsborgingsprocessen verbetert.

      Downloads



      Contact ons

      Geïnteresseerd in onze producten of diensten? We geven je graag meer informatie of een live demo, op afstand of persoonlijk.

      Wens je meer informatie?

      Neem contact met ons op. Onze experts nemen contact met je op.

      Formulier is aan het laden...

      / 4
      Volgende stap:
      • Je vraag
      • Persoonlijke gegevens
      • Bedrijfsgegevens

      Als je meer informatie wilt over gegevensverwerking bij ZEISS, raadpleeg dan onze verklaring gegevensbescherming.