ZEISS INSPECT X-Ray
Krachtige metrologie van jouw röntgen-gegevens
Visualiseer en analyseer je onderdelen tot in de kern met CT-gegevens. Welke CT-hardware je ook gebruikt, de krachtige ZEISS INSPECT-software helpt je bij het visualiseren en analyseren van de gegevens. Evalueer defecten, structuren en assemblagesituaties en bundel je resultaten in overzichtelijke rapporten.
De hoogtepunten van ZEISS INSPECT X-Ray
Efficiënte evaluatie van meerdere onderdelen
De CT-scan en analyse van individuele onderdelen is tijdrovend. Vergemakkelijk je workflow door een batch onderdelen van een serie tegelijkertijd te scannen, ze te scheiden en automatisch te evalueren via de software. Vergelijk verschillende scans van hetzelfde objecttype met trendprojecten en profiteer van de volledige traceerbaarheid voor herhaalde taken.
Eenvoudige verwerking van onderdelen met meerdere componenten
Het analyseren van complexe onderdelen die uit meerdere elementen bestaan, kan een uitdaging zijn. In ZEISS INSPECT X-Ray worden specificaties van alle delen van een dataset met meerdere componenten gedeeld. Dit vereenvoudigt het inspectieproces aanzienlijk. Dankzij een gebruiksvriendelijk innovatief concept kun je op een interactieve manier interessegebieden creëren. Haal de montage digitaal uit elkaar en analyseer verschillende gebieden met individuele toleranties - dit bespaart aanzienlijk veel tijd.
Automatisch defecten opsporen
Zelfs als je gegevens niet optimaal zijn, kun je poriën of insluitsels betrouwbaar evalueren met ZEISS INSPECT. Met de ZADD Segmentation-app kan detectie van defecten worden geautomatiseerd met behulp van KI. Laat de software gewoon het werk doen. Wil je een evaluatie van de gedetecteerde defecten conform de industriële normen? Geen probleem.
Betere oriëntatie door Multiview
Verdeel de UI van de software in verschillende werkgebieden. Op deze manier kun je een onderdeel gemakkelijk vanuit verschillende perspectieven bekijken. Je kunt doorsnedeweergaven combineren met 3D-weergaven of tabellen en andere weergaven. Onderzoek of inspectie van defecten is mogelijk in elk werkgebied. Orthogonale doorsnedeweergaven, rotatieweergaven, padweergaven, afrolweergaven en 3D-weergaven zijn mogelijk in verschillende combinaties. Dit is Multiview op een nieuw niveau.