Uitzonderlijk hoge CT-beeldkwaliteit

ZEISS scatterControl

The hardware solution for optimized image quality

The module ZEISS scatterControl significantly improves the image quality and reduces scatter artifacts of CT scans to a minimum. These improvements facilitate subsequent data handling and evaluation steps for suitable parts, resulting in even more accurate surface determination and defect analysis. The product is ideal for high voluminous and dense parts, such as additively manufactured metal parts and aluminum cast parts, even with steel inlays, as well as other assemblies containing denser materials.

The module is available for ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, either as a retrofit solution or as part of the purchase of a new system. Upgrade your system with ZEISS scatterControl now and benefit from superior image quality for much easier data evaluation.

Voordelen
Beeldkwaliteit
ZADD-software
Veelgestelde vragen
Contact opnemen

Hoe u profiteert van ZEISS scatterControl

Betere beeldkwaliteit, betere defectdetectie

ZEISS scatterControl verbetert de CT-beeldkwaliteit aanzienlijk door het voorkomen van artefacten veroorzaakt door verstrooide straling te verminderen. Het contrast tussen de verschillende onderdelen wordt vergroot en defectdetectie wordt vereenvoudigd: gebieden van onderdelen die voorheen bijna onmogelijk te beoordelen waren, kunnen nu worden geëvalueerd.

Verbeterde oppervlaktebepaling

Niet alleen defectdetectie, maar de algehele kwaliteit van oppervlaktebepaling wordt verbeterd met ZEISS scatterControl. Dit is een aanzienlijk voordeel voor metrologische toepassingen op uitdagende onderdelen, waarbij artefacten het oppervlaktebepalingsproces afleiden wanneer ze niet worden gecorrigeerd.

Snel scannen met VAST-modus

ZEISS scatterControl werkt met zowel ‘Stop and Go’ als VAST-scanmodus. De scatterControl-oplossing biedt uitzonderlijk hoge beeldkwaliteit voor CT met conusstraal die vergelijkbaar is met de kwaliteit van CT met waaierstraal – maar met tot wel 1000x snellere scantijden.

Eenvoudig in gebruik

ZEISS scatterControl is een oplossing met één klik. De module werkt naadloos samen met andere handige functies van METROTOM OS, zoals VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) of VolumeMerge, en is volledig geïntegreerd in de software.

ZEISS scatterControl voor betere defectanalyse

ZEISS scatterControl verbetert de beeldkwaliteit van CT-scans aanzienlijk voor een breed scala aan onderdelen en industrieën. Daar zijn duidelijke redenen voor, variërend van efficiënte verwijdering van artefacten tot de positionering van de module ten opzichte van het werkstuk. Hierdoor is ZEISS scatterControl de ideale keuze. Ontdek hieronder hoe u de module kunt gebruiken voor uitstekende defectdetectie en analyse.

Verminderde artefacten voor verbeterde CT-beeldkwaliteit

ZEISS scatterControl maakt een groot verschil. Gebruik het schuifelement om de röntgenbeeldkwaliteit te vergelijken die kan worden bereikt met en zonder de scatterControl-module. Het verbeterde beeld vertoont een hoger contrast en minder artefacten, waardoor details veel duidelijker opvallen.

Superieure kwaliteit door positionering van modules

ZEISS scatterControl behaalt superieure kwaliteit in vergelijking met vergelijkbare producten dankzij het werkingsprincipe van de module: deze wordt tussen de buis en de detector geplaatst. Kleinere objecten zoals additief vervaardigde onderdelen met hoge dichtheid kunnen voor de module worden geplaatst, grotere objecten erachter. Het werkt hoe dan ook. Bovendien voorkomen de ingebouwde fysieke botsingssensor en de geavanceerde botsvoorspellingssoftware crashes effectief.

Ideaal voor een scala aan onderdelen en industrieën

  • Gieterij: Enorme aluminium of magnesium onderdelen, zelfs met stalen inlegwerken
  • Automotive: Gietstukken met stalen inlegwerken, stroomelektronica
  • Additieve vervaardiging: Gedrukte metalen onderdelen met hoge dichtheid

Verbeterde 3D-inspectie

Verbeteringen van de volumegegevens leiden tot een veel eenvoudigere evaluatie. 3D-oppervlakken kunnen worden bepaald en weergegeven zonder afleidende artefacten. Veel artefacten zijn meestal het gevolg van verspreide straling en veroorzaken pseudo-oppervlakken in 3D die nauwkeurige metingen belemmeren.

Betrouwbare evaluatiesoftware voor röntgeninspectie

De ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)-software detecteert betrouwbaar zelfs de kleinste defecten – voor spuitgegoten, medische, additief vervaardigde componenten en meer.

Meer informatie

Veelgestelde vragen over ZEISS scatterControl

Welke werkstukken profiteren het meest van ZEISS scatterControl?

Onderdelen die het meest profiteren van ZEISS scatterControl zijn onder meer massieve aluminium of magnesium onderdelen, gietstukken met stalen inlegwerken, stroomelektronica en gedrukte metalen onderdelen met hoge dichtheid, om slechts enkele voorbeelden te noemen.

Hoe stel ik een scan in met ZEISS scatterControl?

ZEISS scatterControl is een oplossing met één klik. Software- en hardware-conflictbeveiliging zijn al geïntegreerd, wat betekent dat u het scanproces zonder extra stappen kunt starten.

Ik heb al een ZEISS ID METROTOM 1500 G3. Kan ZEISS scatterControl achteraf worden gemoderniseerd?

Ja, ZEISS scatterControl is een ideale modernisatie-oplossing voor ZEISS METROTOM 1500 G3. Mogelijk zijn updates nodig, bijvoorbeeld voor METROTOM OS, om uw CT te verbeteren met de scatterControl-module.