ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) computed tomography

De krachtpatser van de resolutie voor CT-inspectie en metrologie

ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)

De ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) digitaliseert complexe onderdelen inclusief de interne geometrieën met een hoog detailniveau. U krijgt een compleet 3D-beeld voor GD&T-analyses of nominaal-actuele vergelijkingen. De metrologie-CT is een meester in het digitaliseren van kleine plastic en licht metalen onderdelen

Wat heb je er aan:

Extreem hoge resolutie
dankzij een 3k X-ray-detector (3008 x 2512 pixels)
Hoge nauwkeurigheid
dankzij de wiskundige modellering van de meetruimte
Automatische objectpositionering
via 5-assige-kinematica en live-view in de software
All-in-one software
voor een consistente, snelle workflow

Informatie downloaden

Wissel ideeën uit op het forum

Onthult wat met andere systemen verborgen blijft

Resolutie

Wanneer een onderdeel gedigitaliseerd wordt, bereikt de ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) een uitstekende detailscherpte: Enerzijds omdat er gebruik wordt gemaakt van een 3k X-ray-detector met hoge resolutie voor de verwerving van de meetgegevens, anderzijds omdat elk onderdeel in de best mogelijke meetpositie wordt gemeten, dat wil zeggen, altijd met de hoogst mogelijke resolutie. U ziet het resultaat hieronder: links de meetgegevens van de ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) en rechts die van standaardapparatuur.

Measuring data generated with the ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)

Not optimized measuring data with ct systems

CT system uses mathematical intelligence.

Garandeert een hoge precisie

Om precieze 3D-meetgegevens te genereren, gaat de ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) met wiskundige intelligentie te werk: Hij combineert tijdens de meetsequentie perfect gekoppelde algoritmes met digitale modellering van de meetruimte. Verder blinken de systeemcomponenten uit door hun optimale mechanische stabiliteit, hetgeen voor de meting van groot belang is. Conclusie: Gebaseerd op de meetresultaten kunt u de kwaliteit van een onderdeel op betrouwbare, zeer nauwkeurige wijze evalueren, en een verdere analyse inleiden.

Makkelijk te centreren

Automatische Objectpositionering

Dankzij de 5-assige-kinematica met geïntegreerde centreertafel kunt u het onderdeel optimaal positioneren. U plaatst het onderdeel eenvoudig in de meetruimte. De rest wordt door de software gedaan.

Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6.

Alles-in-één software

De besturing van het apparaat en de metrologische evaluatie van de gegevens in één softwarepakket: het maakt aanvullende software of tussenstappen overbodig. De procesketen vanaf het verkrijgen van de ruwe data via de inspectie tot en met het aanmaken van een meetrapport is aanzienlijk eenvoudiger geworden.

Uitgebreide evaluatie met GOM Volume Inspect

Gom Volume Inspect maakt volledige CT-gegevensanalyse in 3D mogelijk om de kwaliteit van het onderdeel te evalueren en uw productieproces te optimaliseren. Individuele afbeeldingen van doorsnede maken het mogelijk om het volume laag voor laag te bekijken, waardoor zelfs de kleinste details en defecten zichtbaar worden. De gedetecteerde defecten kunnen in detail worden geanalyseerd en automatisch worden geëvalueerd aan de hand van verschillende criteria. Bovendien kunt u volumedata van meerdere componenten in een project laden, een trendanalyse uitvoeren en de analyse vergelijken met CAD-gegevens. Alle meetresultaten worden gedocumenteerd en uiteindelijk gecombineerd in een goed gestructureerd rapport. Intuïtieve bediening en hoge prestaties: De analyse van CT-gegevens was nog nooit zo eenvoudig!

Meer over GOM Volume Inspect

Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect

Technische gegevens

Kenmerken

X-ray-bron	225 kV
X-ray detector	Resolutie: 3008 x 2512 pixels
Meetbereik	d:240 mm h: 400 mm
Voxel	2 µm - 80 µm
Grootte	H. 2210 mm W. 2200 mm D. 1230 mm
Gewicht	4800 kg
Toepassingsgebieden	First article inspectie, gereedschapscorrectie, inspectie tijdens lopende productie
Inspectie features	Interne structuren, wanddikte, materiaaldefecten, poriën en luchtinsluitsels
Meettaken	GD&T-analyse, nominaal-actuele vergelijking, montageanalyse